高加速寿命测试
项目介绍
HALT（高加速寿命测试）:是一种发现设计缺陷的工序，它通过设置逐级递增的加速环境应力，来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到提升可靠性的目的，最大的特点是设置高于样品设计运行限的环境应力，从而从暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。
HASS（高加速应力筛选）:是产品通过HALT试验得出操作或破坏极限值后在生产线上做高加速应力筛选。要求100%的产品参加筛选。其目的是为了使得生产的产品不存在任何隐患的缺陷或者至少在产品还没有出厂前找到并解决这些缺陷,HASS就是通过加速应力以期在短时间内找到有缺陷的产品，缩短纠正措施的周期，并找到具有同样问题的产品。
HASA（高加速应力抽检筛选）:是一种在产品批量生产阶段使用抽样理论的筛选试验方法。它可以防止有缺陷的产品交付到客户的手中。
试验项目:a.低温步进应力试验；b.高温步进应力试验；c.快速热循环试验；
d.振动步进应力试验；e.综合应力试验；f.工作应力测试。
测试范围
计算机类:电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等
电子通信类:手机、射频器、电子通信元器件等。
电器类:家电、灯具、变电器等各类家电电器设备；
其他:包装箱、运输设备等。
STT检测优势
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